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Referenzen

Seit 2006 wurde GlobalTester von Industriekunden und Regierungskunden weltweit für Konformitätsprüfungen von eID-Karten, ePässen und Lesegeräten (z.B. Inspektionssysteme) verwendet.

In den letzten drei  InterOp Tests zwischen 2013 und 2016 mit dem Fokus auf SAC (heute: PACE) wurden mittels GlobalTester ca. 300 verschiedene Samples mit bis zu 40.000 Testfällen - je nach Samplekonfiguration - getestet.

Warum GlobalTester?
>> Vorteile
Chipkarten- Tests Lesegeräte- Tests
Basierend auf GlobalTester’s open source Plattform für Konformitätstests
Erlaubt die Entwicklung kundespezifischer Testsuiten und Testfälle
Enthält integrierte Routinen zur Testautomatisierung
Testfälle basierend auf XML-Struktur für verbesserte automatisierte Verarbeitung
Skriptsprache bietet Testingenieuren volle Transparenz
Unterstützt alle Kryptografie-Mechanismen in ePässen und eID Karten gemäß TR-03110 und ICAO Doc 9303
Bietet Simulation von Chipkarten (ePässe, eID Karten), inkl. einfach zu bedienende Skripte, um verschiedene Kartenkonfigurationen zu generieren
Bietet Simulation von Lesegeräten (Inspektionssystemen)
Erweiterung für umfangreiche Akzeptanztests möglich (Modellbasiertes Testen)
Basiert auf den aktuellsten Teststandards