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Technische Daten

secunet GlobalTester Architektur

Prüfungen zur Verifikation der Konformität und Funktionalität der Chip-Anwendungen von Chipkarten und Lesegeräten sind von größter Bedeutung, um die Erfüllung der Anforderungen an folgende Kriterien - insbesondere bei grenzüberschreitenden Systemen - sicher zu stellen:

  • Authentizität
  • Datenintegrität
  • Verfügbarkeit
  • Datensicherheit
  • Nachweisbarkeit
  • Interoperabilität

secunet GlobalTester bietet Entwicklern eine umfangreiche Testplattform um Konformitätsprüfungen für Chipanwendungen durchzuführen.

secunet GlobalTester Module

Testspezifikation

Das Modul Testspezifikation erlaubt es dem Nutzer Einsicht in die Testfallspezifikation im XML-Format zu nehmen, dort eigene Anpassungen vorzunehmen und bei Bedarf  maßgeschneiderte Testfälle zu beschreiben und zu implementieren.
Unser einstufiger Ansatz von Testspezifikation und Testausführung ermöglicht es Anwendern, Testsuiten oder einzelne Testfälle direkt mit dem Modul Testspezifikation basierend auf spezifischen Software Testmethoden auszuführen.

Testausführung

Das Modul Test Runner erlaubt Nutzern Tests auszuführen, Testberichte zu generieren sowie Ergebnisse anzuzeigen und zu analysieren. Mehrere Funktionen zur Verfolgbarkeit bzw. Nachvollziehbarkeit von Ergebnissen (z.B. Wiederholung von Testsuiten) unterstützen die Nutzer während der Produktentwicklung und bei der Analyse und Behebung von Fehlern.

Fehleranalyse und Fehlerberichte

Das Modul Fehleranalyse und Reporting bietet die automatische Generierung von Fehlerberichten und Logdateien. Fehler und Probleme werden automatisch lokalisiert. Ausführliche Protokolldateien beschreiben beide Seiten des Kommunikationsprotokolls, um Fehler genau zu analysieren

Die Testsuiten innerhalb der Konformitätstests basieren auf JavaScript, GlobalPlatform und XML. Alle Konformitätstests können kundenspezifisch angepasst und mittels JavaScript erweitert werden. Kunden können eigene Testsuiten selbst entwickeln.

Unterstützte Features und Testspezifikationen

Features Prove ePP Prove IS Prove ePA Prove ePA Reader Prove eID Client Spezifikation
Testsuiten für Chipkarten-Tests
BAC ICAO RF Protocol and Application Test Standard for eMRTD, Part 3
EACv1 BSI TR-03105 Part 3.2
PACE BSI TR-03105 Part 3.3
PACE ICAO RF Protocol and Application Test Standard for eMRTD, Part 3
EACv2 BSI TR-03105 Part 3.3
eSign BSI TR-03105 Part 3.4
Testsuiten für Lesegeräte-Tests
BAC BSI TR-03105 Part 5.1
EACv1 BSI TR-03105 Part 5.1
PACE BSI TR-03105 Part 5.2
PACE ICAO RF Protocol and Application Test Standard for eMRTD, Part 4
EACv2 BSI TR-03105 Part 5.2/5.3
eSign BSI TR-03105 Part 5.2/5.3
eID terminals BSI TR-03105 Part 5.2/5.3
API
BAC ICAO 9303
PACE BSI TR-03110
EACv1 BSI TR-03110
EACv2 BSI TR-03110
Simulator
ePassport (EACv1, PACE) BSI TR-03110, ICAO Doc 9303
eID (EACv2, PACE, eSign) BSI TR-03110