Umfang von secunet GlobalTester und der Prove Produktfamilie
- Testsuiten für das Testen von Chipkartenprotokollen basierend auf den neuesten Testspezifikationen des BSI und der ICAO
- APIs für die Simulation von Chipkarten und/oder Chipkartenlesegeräten
- Simulatoren für elektronische Reisepässe (ePässe) und elektronische ID Karten (eID)
Unterstützte Testspezifikationen
- Chipkarten mit kontaktbehafteter (ISO 7816) und kontaktloser (ISO 14443) Schnittstelle
- BSI TR-03105 3.2: eMRTD mit EACv1
- BSI TR-03105 3.3: eMRTD mit EACv2
- BSI TR-03105 3.4: eSign für nPA
- ICAO TR Part 3: eMRTD mit EACv1 plus PACE
- ISO/IEC-18013-Part 4: Test methods
Schnittstellen für die Anwendungsprogrammierung (APIs) zur Simulation von Chipkartenlesegeräten
- EACv2 gemäß BSI TR-03110 für die Simulation von eID Lesegeräten (eID Terminals)
- BAC, PACE, EACv1 gemäß ICAO Doc 9303 und BSI TR-03110 zur Simulation von Inspektionssystemen für ePässe
- BAP und PAC gemäß ISO/IEC-18013 für die Simulation von Lesegeräten
Unterstützte Testspezifikationen
- Lesegeräte für Chipkarten mit kontaktbehafteter (ISO 7816) und kontaktloser (ISO 14443)
- BSI TR-03105 5.1: Inspektionssysteme mit EACv1
- BSI TR-03105 5.2: eID Lesegeräte mit EACv2
- BSI TR-03105 5.3: Terminal Software für ePA-Lesegeräte
- ICAO TR Part 4: Inspektionssysteme mit EACv1 plus PACE
Schnittstellen für die Anwendungsprogrammierung (APIs) zur Simulation von Chipkartenprotokollen
- BAC, PACE und EACv1 gemäß BSI TR-03110 für die Simulation von ePässen
- EACv2 gemäß BSI TR-03110 und BSI TR-03119 für die Simulation von eID Karten