Umfang von secunet GlobalTester und der Prove Produktfamilie

  • Testsuiten für das Testen von Chipkartenprotokollen basierend auf den neuesten Testspezifikationen des BSI und der ICAO
  • APIs für die Simulation von Chipkarten und/oder Chipkartenlesegeräten
  • Simulatoren für elektronische Reisepässe (ePässe) und elektronische ID Karten (eID)
Konformitätsprüfung von Chipkarten

Unterstützte Testspezifikationen

  • Chipkarten mit kontaktbehafteter (ISO 7816) und kontaktloser (ISO 14443) Schnittstelle
  • BSI TR-03105 3.2: eMRTD mit EACv1
  • BSI TR-03105 3.3: eMRTD mit EACv2
  • BSI TR-03105 3.4: eSign für nPA
  • ICAO TR Part 3: eMRTD mit EACv1 plus PACE
  • ISO/IEC-18013-Part 4: Test methods

Schnittstellen für die Anwendungsprogrammierung (APIs) zur Simulation von Chipkartenlesegeräten

  • EACv2 gemäß BSI TR-03110 für die Simulation von eID Lesegeräten (eID Terminals)
  • BAC, PACE, EACv1 gemäß ICAO Doc 9303 und BSI TR-03110 zur Simulation von Inspektionssystemen für ePässe
  • BAP und PAC gemäß ISO/IEC-18013 für die Simulation von Lesegeräten
Konformitätsprüfung von Lesegeräten

Unterstützte Testspezifikationen

  • Lesegeräte für Chipkarten mit kontaktbehafteter (ISO 7816) und kontaktloser (ISO 14443)
  • BSI TR-03105 5.1: Inspektionssysteme mit EACv1
  • BSI TR-03105 5.2: eID Lesegeräte mit EACv2
  • BSI TR-03105 5.3:  Terminal Software für ePA-Lesegeräte
  • ICAO TR Part 4: Inspektionssysteme mit EACv1 plus PACE

Schnittstellen für die Anwendungsprogrammierung (APIs) zur Simulation von Chipkartenprotokollen

  • BAC, PACE und EACv1 gemäß BSI TR-03110 für die Simulation von ePässen
  • EACv2 gemäß BSI TR-03110 und BSI TR-03119 für die Simulation von eID Karten